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  • 碳方程新材料公司在CVD長晶設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)上形成了完善的設(shè)備及產(chǎn)品體系,并且在CVD金剛石實(shí)驗(yàn)室生長工藝研發(fā)上取得了突破性的進(jìn)展,以“設(shè)備+工藝”為方針,相互引導(dǎo),相互依托,以規(guī)模生產(chǎn)為研發(fā)基石,共筑”MPCVD”生產(chǎn)技術(shù)藍(lán)圖。

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    GaN-on-diamond技術(shù),開啟功率器件散熱新紀(jì)元

    • 作者:碳方程新材料(山西)有限公司
    • 類別:行業(yè)新聞
    • 更新時間:2025-05-09 15:20:32
    • 瀏覽量:3人閱讀

    近日,深圳大學(xué)劉新科團(tuán)隊(duì)在英?期刊MaM上發(fā)表題為“GaN-on-diamond technology for next-generation power devices”的綜述文章。該期刊已入選“中國科技期刊卓越行動計劃”高起點(diǎn)新刊。文章中詳述氮化鎵-金剛石(GaN-on-diamond)技術(shù)在下一代功率器件中的應(yīng)用,系統(tǒng)介紹其研究現(xiàn)狀、關(guān)鍵技術(shù)及應(yīng)用前景。論文第一作者為范康凱,通訊作者為劉新科。

    高頻高功率時代的散熱難題

    隨著消費(fèi)電子向高頻高功率發(fā)展,氮化鎵(GaN)器件因具高擊穿場強(qiáng)等優(yōu)異特性,成下一代熱門選擇,但高功率密度下的自熱效應(yīng)嚴(yán)重制約其性能。傳統(tǒng)硅/碳化硅基板因?qū)嵝什蛔?,?dǎo)致商用GaN晶體管功率密度僅達(dá)3-8W/mm,遠(yuǎn)低于理論極限,亟需突破性散熱技術(shù)革新。 

    GaN-on-diamond技術(shù):

    革命性散熱方案

    GaN-on-diamond技術(shù)通過結(jié)合高導(dǎo)熱金剛石基板(2200 W/mK)與GaN器件,顯著提升散熱能力,解決 GaN 器件散熱難題,其核心集成方法包括鍵合(剝離GaN基板與金剛石鍵合)和外延生長(直接沉積GaN層),其中界面熱阻可低至3 m2K/GW,遠(yuǎn)優(yōu)于SiC基板。此外,圖案化生長、納米晶金剛石封層等技術(shù)進(jìn)一步優(yōu)化散熱性能,突破傳統(tǒng)熱管理瓶頸。

    自熱效應(yīng):

    GaN器件性能的隱形殺手

    GaN HEMT器件在高功率運(yùn)行時因載流子運(yùn)動引發(fā)自熱效應(yīng),漏極附近形成局部熱點(diǎn),導(dǎo)致結(jié)溫升高、壽命指數(shù)下降及性能衰退。傳統(tǒng)Si/SiC基板受限于低熱導(dǎo)率,加劇熱量積累。解決這一問題的關(guān)鍵在于尋找具有更高熱導(dǎo)率的基板材料。金剛石因其高達(dá) 2000 W/m/K 的熱導(dǎo)率而成為理想的候選材料。在 GaN-on-diamond 結(jié)構(gòu)中,金剛石的高熱導(dǎo)率能夠快速將器件活動區(qū)的熱量傳導(dǎo)至封裝中的散熱器,有效防止局部過熱。這種優(yōu)異的散熱能力使得 GaN-on-diamond 結(jié)構(gòu)能夠在更高功率密度下運(yùn)行,同時保持器件的可靠性和穩(wěn)定性。

    界面熱阻:

    散熱性能的關(guān)鍵因素

    界面熱阻(TBR)是GaN-on-diamond散熱性能的關(guān)鍵限制因素,源于界面原子振動失配及缺陷(如位錯、粗糙度、晶格失配),導(dǎo)致聲子散射加劇。通過優(yōu)化鍵合技術(shù)(如表面活化鍵合減少非晶碳層)和外延生長工藝,并結(jié)合SiNx介質(zhì)層(界面熱阻低至9.5 m2K/GW),可顯著降低TBR,優(yōu)于AlN或無介質(zhì)層方案(>20 m2K/GW),從而提升整體熱傳導(dǎo)效率。

    GaN-on-diamond熱管理技術(shù):

    現(xiàn)狀與挑戰(zhàn)

    目前有四種基于金剛石的散熱技術(shù):多晶、單晶金剛石散熱技術(shù),分別利用多晶、單晶特性提升散熱;嵌入式金剛石散熱柱技術(shù)增強(qiáng)局部散熱;金剛石鈍化層技術(shù)兼具保護(hù)與散熱作用。GaN-on-diamond 技術(shù)潛力大,但實(shí)際應(yīng)用面臨挑戰(zhàn),如金剛石加工制備難,GaN 與金剛石熱膨脹系數(shù)等差異大易致界面缺陷,以及高質(zhì)量外延層剝離和金剛石基板生長技術(shù)難題。

    界面熱阻與電子-聲子耦合理論

    界面熱阻與電子 - 聲子耦合理論緊密相關(guān),該耦合指電子與晶格振動相互作用,在 GaN-on-diamond 體系中,對界面熱傳輸影響重大。它既能促進(jìn)電子與晶格能量交換,影響熱傳輸;又會因使晶格振動畸變而增加界面熱阻,阻礙熱量傳輸。為準(zhǔn)確計算和測量界面熱阻,提出了漫反射失配模型等多種計算方法及時域熱反射法等實(shí)驗(yàn)測量方法,為優(yōu)化器件散熱性能提供理論支撐。

    GaN-on-diamond技術(shù):

    從實(shí)驗(yàn)室到實(shí)際應(yīng)用

    GaN-on-diamond 技術(shù)在射頻、功率和微波器件等領(lǐng)域前景廣闊,有望推動 GaN 器件性能、可靠性和壽命飛躍,未來或拓展至超寬禁帶半導(dǎo)體領(lǐng)域。不過,其大規(guī)模商業(yè)化應(yīng)用面臨技術(shù)和工程挑戰(zhàn),如優(yōu)化鍵合工藝、解決晶格失配等。未來研究將聚焦降低界面熱阻、開發(fā)高效散熱封裝技術(shù)及探索新材料組合等。該技術(shù)極具前景,正受關(guān)注,有望成為半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展新引擎。

    碳方程50200A MPCVD設(shè)備

    碳方程50200A MPCVD設(shè)備在生長多晶產(chǎn)品方面優(yōu)勢顯著,設(shè)備采用915MHZ的微波頻率,單爐可生產(chǎn)8英寸多晶產(chǎn)品,若用于生產(chǎn)單晶金剛石,單爐能夠穩(wěn)定產(chǎn)出多達(dá) 489 片尺寸為 7*7mm 的單晶金剛石。設(shè)備運(yùn)行功率方面,采用50KW大功率裝置,更大尺寸的多晶產(chǎn)品意味著更高的生產(chǎn)效率和更低的單位成本,能夠滿足客戶大規(guī)模生產(chǎn)的需求。同時,我們的設(shè)備在技術(shù)方面也有著諸多創(chuàng)新和突破,確保了產(chǎn)品的高質(zhì)量和穩(wěn)定性。有效降低生產(chǎn)成本,提高產(chǎn)品的市場競爭力。

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